VŠB-TU Ostrava

Optická spektroskopie

Konkrétní cíle a zaměření se orientují do následujících oblastí:

I. Charakterizace periodických nanostruktur, mřížek a fotonických krystalů metodami optické spektroskopie

II. Optická a magnetická charakterizace nových materiálů

III. Výpočty z prvních principů (ab-initio výpočty)

IV. Magnetické vlastnosti periodických nanostruktur a nanokompozitních materiálů

Laboratoř spektroskopické elipsometrie

Místnost: IT4 - 264
Laboratoř spektroskopické elipsometrie je vybavena elipsometrem UVISEL firmy Jobin-Yvon Horiba. Elipsometr je založen na metodě fázové modulace a umožňuje přesné měžení elipsometrických spekter v rozsahu 190-2100 nm, který pokrývá viditelnou, blizkou infračervenou a blízkou ultrafialovou spektrální oblast. Elipsometr je využíván zejména pro studium optických a geometrických parametrů ultratenkých vrstev a speciálních vzorků pro měření anizotropních parametrů pomocí zobecněné elipsometrie. Spektroskopická elipsometrie je jednou z komplexu charakterizačních technik využíváných na Institutu fyziky pro studium tenkých vrstev, nanostrukturovaných materiálů a nanomřížek.

Laboratory of spectroscopic ellipsometry includes the ellipsometer UVISEL produced by Jobin-Yvon Horiba company. The ellipsometer based on phase modulation gives precise measurement of ellipsometric spectra from 190 to 2100 nm covering visible, near infrared and near ultraviolet spectral range. Ellipsometer is mainly used for study of optical functions and geometrical parameters of ultrathin films and special anisotropic samples characterized by generalized ellipsometry. Spectroscopic ellipsometry is one of characterization techniques used at Department of Physics for study of thin films, nanostructured materials and nanogratings.

Elipsometr UVISEL
Elipsometr UVISEL firmy Jobin-Yvon Horiba.

Laboratoř magnetooptiky

Místnost: IT4 - 263
Laboratoř je orientována na základní a aplikovaný výzkum planárních a periodických struktur s magnetickým uspořádáním. Experimentální aparatury umožňují měření Kerrova magnetooptického jevu, vlnovodných procesů v tenkých vrstvách, aplikaci metody ATR.

Přístrojové vybavení laboratoře:
Optický stůl 1HT10-20-20 s vibroizolačním systémem (EKSMA), optický stůl 1HT12-24-30 s vibroizolačním systémem, zdroje světelného záření: Xe vysokotlaká výbojka, spojité spektrum 250-2500 nm 300W, research arc lamp housing, kolimátor, napájecí zdroj-(fa ORIEL), De lampa, spojité spektrum 160-500 nm, 30W, Q series lamp housing, kolimátor, napájecí zdroj-(fa ORIEL), kalibrační nízkovýkonová výbojka Hg(Ar), napájecí zdroj-(fa ORIEL), HeNe plynový laboratorní laser 633 nm, 20 mW (Coherent), HeNe plynový laboratorní laser 543 nm, 8 mW (Coherent), polovodičový laser 670 nm, 10mW, (Laser Components).

Detektory: 2 ks Si plošné fotodiody, 380-1100 nm, (Laser Components), modul fotonásobiče H7712-13, 185-900 nm, napájecí zdroj (Hamamatsu), CCD plošná kamera (Mintron) monochromátory: SPM-2 hranolový monochromátor, 350-800nm (Zeiss), Cornerstone 260 mřížkový monochromátor (ORIEL), mřížka pro rozsah 300-925 nm, mřížka pro rozsah 180-700 nm.

Fotoelastický modulátor: I/FS50, kontrolér PEM-90 (HINDS Instruments), čtvrtvlnová retardace v intervalu 170-1000 nm, půlvlnová retardace v intervalu 170-2000 nm, polarizační optika: 2 ks Frank-Ritter polarizační hranol, 350-800 nm (Turnov), čtvrtvlnové destičky pro 633, 543 a 660 nm, opto-mechanické prvky: optické lavice, držáky optiky, posuvy a rotace, signal conditioning: lock-in zesilovač SRS830 (Stanford Research Systems), 2 ks digitální voltmetr 34401A, 6 1/2 digit, (Agilent).

Digitalizace dat: DaqBook/120, 8 MUX analogových vstupů, 12bit/100kHz A/D, 2 x 12 bit D/A, 24 digital I/O, 5 counter/timer, řízení experimentu: 2 ks PC 333MHz, 128 MB RAM, 4 GB HDD, karta rozhraní IEEE-488 (National Instruments), generátory mag. pole: 2 ks magnet typu "Maltézský kříž" pro in-plane experimenty, univerzální vzduchová cívka pro Kerrovská měření, napájecí zdroje se zpětnovazební smyčkou (režim konst. proudu) (vyrobeno v dílnách KF).

Laboratoř elipsometrie

Místnost: IT4 - 264
Laboratoř je zaměřena na elipsometrická měření materiálů. Dovoluje určit optické parametry vybraných materiálů a tloušťky tenkých vrstev.

Přístrojové vybavení laboratoře:
Elipsometr Gaertner, optický stůl, modulátor optického svazku, monochromátor Oriel Cornstone 260, lock-in zesilovač SRC 830 (Stanford Research Systems), řídicí PC, karta rozhraní IEEE-488 (National Instruments), 1 ks digitální voltmetr 34401A, 6 1/2 digit (Agilent), polarizační optika.