VŠB-TU Ostrava

Laboratoř magneto-optické Kerrovy mikroskopie

Měřicí metoda:

Magneto-optická Kerrova mikroskopie pro pozorování magnetických domén na površích materiálů, domény jsou studovány při pokojové teplotě ve statických magnetických polích.

Přístrojové vybavení:

Optický mikroskop Zeiss, Xe lampa, optické komponenty (polarizátor, analyzátor, čočky, filtry), objektivy s různým zvětšením, CCD kamera Hamamatsu, magnety generující magnetické pole v rovině vzorku a kolmo na rovinu vzorku, napájecí zdroj Kepco, software Kerrlab, antivibrační stůl.

Zkoumané materiály:

Pevné feromagnetické a ferimagnetické materiály (nutná nízká povrchová drsnost) – tenké vrstvy, multivrstvy, amorfní a nanokrystalické materiály na bázi Fe, Co a Ni .

Zkoumané vlastnosti materiálů:

http://www.evico-magnetics.de/Standard.html
http://www.evico-magnetics.de/microscope.html


Tab. 1 Objektivy EC Epiplan-Neofluar Pol a jejich parametry

Objektiv zvětšení x/numerická aperturaVelikost zorného pole [mm]Ideální rozlišení
[nm]
2,5x/0,06 3,600 x 2,7206100
10x/0,25 0,900 x 0,6801464
20x/0,50 0,450 x 0,340732
50x/0,80 0,180 x 0,136457
100x/0,90 0,090 x 0,068406



Tab. 2 Používané magnety

Magnetické pole generované rovnoběžně s povrchem vzorku
Vzduchová cívka,
Velikost mezery 38 mm
Hmax = 32 kA/mI = 4 A
Pólové nadstavce na menší pole
Vzdálenost mezi póly 25 mm
Hmax = 280 kA/m
Pólové nadstavce na větší pole
Vzdálenost mezi póly 12,5 mm
Hmax = 480 kA/m
Magnetické pole generované kolmo na povrch vzorku
Válcově symetrický magnet Hmax = 288 kA/mI = 4 A


Laboratoř magneto-optické Kerrovy mikroskopie
Laboratoř magneto-optické Kerrovy mikroskopie